详情介绍

　　项目简介

　　为客户提供IC组件失效分析、EFA(电性故障分析) 、PFA(物性故障分析)服务，协助解决故障问题。

　　服务项目

　　自动曲线追踪仪、点针信号量测、半导体组件参数分析、纳米探针电性量测等电性检测，超声波扫描、X射线检测、超高分辨率数字显微镜等非破坏性分析。